企业简介
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德律科技股份有限公司的商标信息
| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 15323591 |  |
TRI INNOVATION | 2014-09-11 | 印刷版；化学工业用电动机械；升降机（运送滑雪者上坡装置除外）；金属加工机械；金属加工机械；精加工机器；金属加工机械；电子工业设备；光学冷加工设备；阀（机器零件）； | 查看详情 |
| 2 | 15323592 |  |
TRI INNOVATION | 2014-09-11 | 计算机外围设备；已录制的计算机操作程序；内部通讯装置；照相机（摄影）；光学器械和仪器；检验用镜；电源材料（电线、电缆）；印刷电路板；稳压电源；荧光屏； | 查看详情 |
| 3 | 15324003 |  |
TRI INNOVATION | 2014-09-11 | 技术研究；材料测试；工业品外观设计；软件运营服务[SaaS]；计算机系统设计；计算机系统远程监控；云计算；计算机软件设计；计算机软件维护；计算机软件更新； | 查看详情 |
| 4 | 11748088 |  |
德律 | 2012-11-15 | 技术研究；材料测试；计算机编程；计算机系统设计；计算机硬件设计和开发咨询；计算机软件更新；计算机软件设计；计算机软件安装；计算机系统远程监控；计算机软件维护；工业品外观设计 | 查看详情 |
| 5 | 6022286 |  |
TRI INNOVATION | 2007-04-26 | 精密测量仪器；电路测试器；集成电路测试器；混合式集成电路自动检测器；印刷电路板电路自动测定器；自动光学检测机；集成电路检查机；工业用X光机械设备；非医用X光机械设备 | 查看详情 |
| 6 | 11748089 |  |
RI | 2012-11-15 | 技术研究；材料测试；计算机编程；计算机系统设计；计算机硬件设计和开发咨询；计算机软件更新；计算机软件设计；计算机软件安装；计算机系统远程监控；计算机软件维护；工业品外观设计 | 查看详情 |
| 7 | 6403066 |  |
RI;R | 2007-11-27 | 仪器安装修理 | 查看详情 |
| 8 | 7032026 |  |
VREGTEST | 2008-10-31 | 精密测量仪器；电路测试器；集成电路测试器；数模混合集成电路测试仪器和设备；印刷电路板电路自动测定器；自动光学检测机；集成电路检测仪；工业用X光机械设备；非医用X光机械设备 | 查看详情 |
| 9 | 6515512 |  |
TOGGLESCAN | 2008-01-17 | 仪器安装修理 | 查看详情 |
| 10 | 7048986 |  |
TR518F | 2008-11-10 | 精密量测仪器的安装和修理;组装电路板测试器的安装和修理;在线测试电路板仪器的安装和修理; | 查看详情 |
| 11 | 14034563 |  |
德律 | 2014-02-18 | 为零售目的在通讯媒体上展示商品；广告；为消费者提供商业信息和建议(消费者建议机构)；组织商业或广告展览；投标报价；组织技术展览；进出口代理；替他人推销；替他人采购(替其他企业购买商品或服务)；市场营销； | 查看详情 |
| 12 | 6022285 |  |
TRI INNOVATION | 2007-04-26 | 仪器安装修理 | 查看详情 |
| 13 | 7032027 |  |
TOGGLESCAN | 2008-10-31 | 计算机编程；计算机系统设计；计算机硬件咨询；技术研究 | 查看详情 |
| 14 | 6515513 |  |
TOGGLE SCAN | 2008-01-17 | 精密测量仪器；电路测试器；集成电路测试器；印刷电路板电路自动测定器；自动光学检测机；集成电路检测仪；工业用X光机械设备；非医用X光机械设备；数模混合集成电路测试仪器和设备 | 查看详情 |
| 15 | 7048981 |  |
TR518FE | 2008-11-10 | 计算机编程;计算机软件的安装;计算机软件维护;计算机软件升级;计算机系统设计;计算机硬件咨询;技术研究; | 查看详情 |
| 16 | 7048971 |  |
TR518FR | 2008-11-10 | 精密量测仪器的安装和修理;组装电路板测试器的安装和修理;在线测试电路板仪器的安装和修理; | 查看详情 |
| 17 | 7048983 |  |
TR518FE | 2008-11-10 | 精密测量仪器;电路测试器;集成电路测试器;数模混合集成电路测试仪器和设备;印刷电路板电路自动测定器;自动光学检测机;集成电路检测仪;工业用X光机械设备;非医用 | 查看详情 |
| 18 | 6016665 |  |
德律 | 2007-04-23 | 精密量测仪器的安装和修理；组装电路板测试器的安装和修理；在线测试电路板仪器的安装和修理 | 查看详情 |
| 19 | 15324004 |  |
TRI INNOVATION | 2014-09-11 | 广告；为零售目的在通讯媒体上展示商品；为消费者提供商业信息和建议（消费者建议机构）；组织技术展览；投标报价；市场营销；替他人采购（替其他企业购买商品或服务）；替他人推销；进出口代理；在计算机数据库中升级和维护数据； | 查看详情 |
| 20 | 6016666 |  |
德律 | 2007-04-23 | 精密测量仪器；电路测试器；集成电路测试器；混合式集成电路自动检测器；印刷电路板电路自动测定器；自动光学检测机；工业用X光机械设备；非医用X光机械设备；集成电路检测仪 | 查看详情 |
| 21 | 15324002 |  |
德律 | 2014-09-11 | 已录制的计算机操作程序；计算机外围设备；内部通讯装置；照相机（摄影）；检验用镜；光学器械和仪器；电源材料（电线、电缆）；稳压电源；荧光屏；集成电路用晶片； | 查看详情 |
| 22 | 6403067 |  |
RI | 2007-11-27 | 精密测量仪器；电路测试器；集成电路测试器；混合式集成电路自动监测器；印刷电路板电路自动测定器；自动光学检测机；集成电路检测仪；工业用X光机械设备；非医用X光机械设备 | 查看详情 |
| 23 | 7032024 |  |
VREGTEST | 2008-10-31 | 计算机编程；计算机系统设计；计算机硬件咨询；技术研究 | 查看详情 |
| 24 | 7048985 |  |
TR518F | 2008-11-10 | 计算机编程;计算机软件的安装;计算机软件维护;计算机软件升级;计算机系统设计;计算机硬件咨询;技术研究; | 查看详情 |
| 25 | 7048987 |  |
TR518F | 2008-11-10 | 精密测量仪器;电路测试器;集成电路测试器;数模混合集成电路测试仪器和设备;印刷电路板电路自动测定器;自动光学检测机;集成电路检测仪;工业用X光机械设备;非医用 | 查看详情 |
| 26 | 7032025 |  |
VREGTEST | 2008-10-31 | 仪器安装修理 | 查看详情 |
| 27 | 7048988 |  |
TR518FR | 2008-11-10 | 计算机编程;计算机软件的安装;计算机软件维护;计算机软件升级;计算机系统设计;计算机硬件咨询;技术研究; | 查看详情 |
| 28 | 14981725 |  |
德律泰 | 2014-06-24 | 计算机外围设备；内部通讯装置；测量器械和仪器；精密测量仪器；测量仪器；光学器械和仪器；电源材料（电线、电缆）；印刷电路板；荧光屏；工业遥控操作用电气设备； | 查看详情 |
| 29 | 7048972 |  |
TR518FR | 2008-11-10 | 精密测量仪器;电路测试器;集成电路测试器;数模混合集成电路测试仪器和设备;印刷电路板电路自动测定器;自动光学检测机;集成电路检测仪;工业用X光机械设备;非医用 | 查看详情 |
德律科技股份有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | TW468785 | 应用于电路测试设备中之上治具固定装置 | 2001.12.11 | 本案系为一种上治具固定装置，其系应用于一电路测试设备中之压床与一上治具之固定上，其具有一第一侧构造与 |
| 2 | CN200989793Y | 应用于光学检测机的夹具 | 2007.12.12 | 一种应用于光学检测机的夹具，包含：一主结构，具有一基准面；一推顶块，具有一推顶面；以及一压着部，系设 |
| 3 | TWI534409 | 光学检测系统 | 2016.05.21 | 光学检测系统包含第一光学模组及第二光学模组。第一光学模组包含第一光源及第一影像撷取单元。第一光源具有 |
| 4 | TWI535192 | 交流耦合放大电路 | 2016.05.21 | 交流耦合放大电路在此揭露。交流耦合放大电路包含第一电容、放大器、输入电阻和加速电阻。第一电容用以接收 |
| 5 | CN101261302A | 电路开路检测系统及其方法 | 2008.09.10 | 本发明披露一种用来判断电子元件的接脚是否适切地耦接到电路装置的检测系统与方法。该检测系统包括测试信号 |
| 6 | CN104076270B | 用于电压设定的测试机台 | 2016.09.28 | 一种用于电压设定的测试机台，所述测试机台包含控制单元与滤波电路，其中控制单元电性连接滤波电路。控制单 |
| 7 | CN105890545A | 光学检测系统 | 2016.08.24 | 本发明公开了一种光学检测系统，包含第一光学模块及第二光学模块。第一光学模块包含第一光源及第一影像撷取 |
| 8 | CN102901739B | 电磁射线摄像系统及方法 | 2016.12.14 | 本发明是有关于一种电磁射线摄像系统，包含：旋转平台模块、倾斜角控制模块、待测物承载模块、射源模块以及 |
| 9 | CN105865359A | 板弯量测装置和其板弯量测方法 | 2016.08.17 | 本发明公开了一种板弯量测装置和其板弯量测方法，板弯量测方法用于量测待测物体，待测物体置于测量载具上。 |
| 10 | TW472887 | 整合于测试仪器上之受控微量调整装置 | 2002.01.11 | 本案系为一种受控微量调整装置，整合于一测试仪器上，该测试仪器包含有一压板，该压板系可进行升降动作来顶 |
| 11 | CN103941170B | 功能测试治具、系统及方法 | 2016.12.28 | 一种功能测试治具、系统及方法，所述功能测试治具，包含：介面模块以及测试控制模块。介面模块与待测模块相 |
| 12 | CN106373114A | 检测方法及装置 | 2017.02.01 | 本发明在此提供一种检测方法及装置。检测方法适用于检测装置，检测方法包含：光学扫描一待测物以产生一扫描 |
| 13 | CN106353317A | 检测待测目标物的检测装置与方法 | 2017.01.25 | 本发明公开了一种检测待测目标物的检测装置与方法，该检测装置包含：单色影像撷取模块、多个照明模块及控制 |
| 14 | CN105988223A | 光学系统 | 2016.10.05 | 本发明公开了一种光学系统，包含至少一个光学装置，用于投影第一投影影像至平面或从平面侦测第一侦测影像。 |
| 15 | CN103575234B | 三维影像测量装置 | 2016.08.24 | 本发明揭露一种三维影像测量装置，包含测量平台、可动光学头、三维计算模块、移动模块以及校正控制模块。可 |
| 16 | CN105892043A | 光学系统 | 2016.08.24 | 本发明公开了一种光学系统，包含至少一个光学装置。光学装置包含第一光源、第二光源与动态开关。第一光源用 |
| 17 | CN104071601B | 物件输送装置及方法 | 2016.08.17 | 一种物件输送装置及方法，所述物件输送装置，包含：承载待送物件的输送带模块、对待送物件取像的光学取像模 |
| 18 | CN103941105B | 时序分析装置及时序分析方法 | 2016.08.17 | 一种时序分析装置及时序分析方法，所述时序分析装置，应用于可编程序逻辑阵列系统中，包含：复数个第一及第 |
| 19 | CN205333680U | 压床模组 | 2016.06.22 | 一种压床模组，包含机架本体、下治具、天板模组及上治具。下治具固定至机架本体。天板模组包含上天板与天板 |
| 20 | CN105675987A | 测试系统及其相位检测装置及方法 | 2016.06.15 | 本发明公开了一种测试系统及其相位检测装置及方法，该相位检测装置包含：信号产生模块、类比乘法模块及处理 |
| 21 | CN105629183A | 三相电源检测装置、系统及方法 | 2016.06.01 | 本发明公开了一种三相电源检测装置、系统及方法。三相电源检测系统包含：数字控制单元、电力单元以及三相电 |
| 22 | TW201617635 | 三相电源检测装置、系统及方法 | 2016.05.16 | 三相电源检测装置、系统及方法。三相电源检测系统包含：数位控制单元、电力单元以及三相电源检测装置。数位 |
| 23 | TWI532972 | 光学系统 | 2016.05.11 | 光学系统包含至少一光学装置。光学装置包含第一光源、第二光源与动态开关。第一光源用以提供第一光束。第二 |
| 24 | CN105553427A | 交流耦合放大电路 | 2016.05.04 | 本发明公开了一种交流耦合放大电路。其包含第一电容、放大器、输入电阻和加速电阻。第一电容用来接收第一信 |
| 25 | CN103528541B | 三维测量系统 | 2016.05.04 | 本发明揭露一种三维测量系统，包含测量平台、投影模块、取像模块以及控制单元。测量平台用以承载一待测物体 |
| 26 | TW201616803 | 交流耦合放大电路 | 2016.05.01 | 交流耦合放大电路在此揭露。交流耦合放大电路包含第一电容、放大器、输入电阻和加速电阻。第一电容用以接收 |
| 27 | TWM520778 | 压床模组 | 2016.04.21 | 压床模组包含机架本体、下治具、天板模组及上治具。下治具固定至机架本体。天板模组包含上天板与天板固定板 |
| 28 | TWI529399 | 测试系统及其相位检测装置及方法 | 2016.04.11 | 相位检测装置，包含：讯号产生模组、类比乘法模组及处理模组。讯号产生模组产生驱动电压讯号至待测模组，俾 |
| 29 | TW201612512 | 检验物体之放射线影像系统及检验物体之放射线影像系统的控制方法 | 2016.04.01 | 检验系统，其包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装置包含放置装置及转动机构。放置装置配置于放射 |
| 30 | CN105445295A | 检验系统及检验系统的控制方法 | 2016.03.30 | 本发明公开了一种检验系统及检验系统的控制方法，该检验系统包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装 |
| 31 | CN103293467B | 信号转态侦测电路及方法 | 2016.03.23 | 本发明揭露一种信号转态侦测电路，包含：计数模块、数字模拟转换模块、比较器以及数字取样模块。计数模块产 |
| 32 | TWI526671 | 板弯量测装置和其板弯量测方法 | 2016.03.21 | 板弯量测方法用以量测一待测物体，待测物体置于一测量载具上。板弯量测方法包含：将一图像投射在该待测物体 |
| 33 | TWI523420 | 具有反向驱动保护功能的测试设备 | 2016.02.21 | 具有反向驱动保护功能的测试设备在此揭露，其包含至少一驱动器与可程式逻辑闸阵列(FPGA)，其中驱动器 |
| 34 | CN101551431A | 电子元件的检测系统及其方法 | 2009.10.07 | 本发明公开了一种判断插槽的引脚是否正确连接至印刷电路板的检测系统与方法。该检测系统包括测试信号信号源 |
| 35 | 电子元件之检测系统及其方法 | 2011.04.01 | ||
| 36 | TWI379089 | 检测装置及其方法 | 2012.12.11 | 一种检测装置包含感测器、电源与测量器。感测器可配置于印刷电路之电子元件上方。电源可提供电力至印刷电路 |
| 37 | CN102565603B | 电性连接缺陷仿真测试方法及其系统 | 2015.08.12 | 本发明是有关于一种电性连接缺陷模拟测试方法，包含下列步骤：提供待测组件，待测组件包含多个接脚群组，各 |
| 38 | TWM497783 | 电测设备 | 2015.03.21 | |
| 39 | CN204166098U | 在线测试机 | 2015.02.18 | 本实用新型公开了一种在线测试机包含机架模块、动力模块、压台模块及支撑模块。机架模块包含机架本体及下治 |
| 40 | CN204142913U | 电测设备 | 2015.02.04 | 本实用新型公开了一种电测设备，包含机架模块及压床模块。机架模块包含机架本体及下治具。下治具固定至机架 |
| 41 | TWM494913 | 在线测试机 | 2015.02.01 | |
| 42 | TW201437124 | 物件输送装置及方法;OBJECT-TRANSPORTING DEVICE AND METHOD | 2014.10.01 | 一种物件输送装置，包含：承载待送物件之输送带模组、对待送物件取像之光学取像模组及控制模组。控制模组于 |
| 43 | CN104071601A | 物件输送装置及方法 | 2014.10.01 | 一种物件输送装置及方法，所述物件输送装置，包含：承载待送物件的输送带模块、对待送物件取像的光学取像模 |
| 44 | CN104076270A | 用于电压设定的测试机台 | 2014.10.01 | 一种用于电压设定的测试机台，所述测试机台包含控制单元与滤波电路，其中控制单元电性连接滤波电路。控制单 |
| 45 | TW201437657 | 用于电压设定的测试机台;TESTING APPARATUS FOR PROVIDING PER PIN LEVEL SETTING | 2014.10.01 | 一种用于电压设定的测试机台在此揭露，测试机台包含控制单元与滤波电路，其中控制单元电性连接滤波电路。控 |
| 46 | TW201436460 | 具有反向驱动保护功能的测试设备;TESTING APPARATUS WITH BACKDRIVING PROTECTION FUNCTION | 2014.09.16 | 一种具有反向驱动保护功能的测试设备在此揭露,其包含至少一驱动器与可程式逻辑闸阵列(FPGA),其中驱 |
| 47 | CN104022771A | 具有反向驱动保护功能的测试设备 | 2014.09.03 | 一种具有反向驱动保护功能的测试设备在此揭露，其包含至少一驱动器与现场可编程门阵列（FPGA），其中驱 |
| 48 | TW201430361 | 时序分析装置及时序分析方法;DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING TIMING ANALYSIS | 2014.08.01 | 一种时序分析装置，应用于一可程式逻辑阵列系统中，包含：复数第一及第二基本输入输出端、通道多工器、复数 |
| 49 | TW201430363 | 功能测试治具、系统及方法;FIXTURE, SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING FUNCTIONAL TEST | 2014.08.01 | 一种功能测试治具，包含：介面模组以及测试控制模组。介面模组与待测模组相连接。测试控制模组控制介面模组 |
| 50 | CN103941105A | 时序分析装置及时序分析方法 | 2014.07.23 | 一种时序分析装置及时序分析方法，所述时序分析装置，应用于可编程序逻辑阵列系统中，包含：复数个第一及第 |
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